日本日置LCR測試儀IM3536

日本日置LCR測試儀IM3536的DC，4Hz~8MHz測量頻率，今后的標桿產品，測量頻率DC，4Hz~8MHz，測量時間：*快1ms，基本精度：±0.05% rdg，1mΩ以上的精度保證范圍，日本日置LCR測試儀IM3536也可安心進行低阻測量，可內部發生DC偏壓測量，從研發到生產線活躍在各種領域中。

日本日置LCR測試儀IM3536的主機不標配測試治具。請在選件中選擇測試治具和探頭。

日本日置LCR測試儀IM3536的基本參數

測量模式	LCR（單一條件下測量），連續測量（保存條件下連續測量）
測量參數	Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流電阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
測量量程	100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程（所有參數由Z規定）
顯示范圍	Z:0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度	Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保證范圍：1mΩ~200MΩ）
測量頻率	4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進)
測量信號電平	[V模式, CV模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA) [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA) [CC模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V) [CC模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V) [直流電阻測量]: 1 V固定
DC偏壓	發生范圍：DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時0 ~1 V)
輸出阻抗	通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
顯示	彩色TFT5.7英寸，觸摸屏
功能	比較器、BIN測量（2個項目10種分類），觸發功能、開路·短路補償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能
接口	EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出
電源	AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
體積及重量	330W × 119H × 230D mm,4.2 kg
附件	電源線×1,使用說明書×1,CD-R（通訊說明書，LCR應用光盤）×1

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產品名稱：日本日置LCR測試儀IM3536

日本日置LCR測試儀IM3536