鑄鋼件超聲波檢測方法及標準

1.定貨要求

1.1 需方應向制造廠明確提出如下要求:

1.1.1 整個鑄件或鑄件的某些部分的質(zhì)量等級;

1.1.2 鑄件要縱波檢測的部位;

1.1.3 除縱波檢查外,要用雙晶探頭對鑄件近表面進行較嚴格檢查的部分和檢測深度;

1.1.4 鑄件經(jīng)制造廠同意按附錄A作補充檢測的部位;

1.1.5 對上述各款的其他附加要求。

2.鑄件要求

2.1 在超聲檢測之前,鑄件應至少進行一次奧氏體化熱處理。

2.2 鑄件探傷表面應沒有影響超聲檢測的物質(zhì),已加工表面應達到△4以上光潔度,未加工表面需要打磨平滑。

2.3 妨礙超聲檢查的機加工應在檢測后進行。

3 儀器設備

3.1 采用脈沖反射式超聲探傷儀,其探傷性能必須滿足JB 1834《A型脈沖反射式超聲波探傷儀技術條件》的要求,頻率范圍為1--5MHz。

3.2 雙晶探頭適用的探測范圍是從*高靈敏度到下降至6dB的一段距離范圍內(nèi)。對于25mm以內(nèi)的深度建議用12°夾角。

3.3 直探頭晶片為12--28mm,探頭應在標稱頻率下使用。為了保持與工件良好接觸,建議使用軟膜探頭。

3.4 為了**判定缺陷,也可用其他規(guī)格的直探頭和雙晶探頭。

3.5 參考試塊應由鑄鋼制成,其超聲特性類似于被檢鑄件。直探頭用的基本參考試塊,其形態(tài)應如圖1 所示,其尺寸列于表1。當檢驗的截面厚度超過250mm時,要制作*大試驗厚度的附加試塊來補充本試塊。

3.6 雙晶探頭用參考試塊應如圖2所示,其尺寸見表2。

3.7 耦合劑采用機油和其他聲阻抗合適的物質(zhì)。

4.探傷方法和部位

4.1 一般以縱波垂直反射法進行,必要時可用橫波法幫助判定缺陷。在規(guī)定用雙晶探頭探傷的部位,用雙晶探頭探傷。

4.2 探傷位置由圖紙或有關技術文件規(guī)定。

5.探傷操作要求

5.1 為使缺陷不漏檢,探頭移動速度不得大于150mm/s,每次掃查至少要疊壓換能器寬度或直徑的15%。

5.2 當工件表面比試塊表面粗糙時,應補償聲能損失。聲能損失的測量如下:首先在鑄件上選擇一處或幾處內(nèi)部良好部位為測量點。這些測量點的表面光潔度應能基本代表其他部位的光潔度,并且在測量點處的探測面和底面應是平行的。然后選擇一厚度同測量點處的鑄件厚度基本一致的試塊校準儀器。當測量點的底反射同試塊的底反射一致時,讀出的兩者分貝差就是聲能損失值。采用這種方法,在鑄件上的檢驗靈敏度可以預計在試塊靈敏度的±30%以內(nèi)或更小一些。

5.3 進行缺陷記錄時,采用作距離振幅校正線的方法,凡高于距離振幅校正線的應予記錄。作距離振幅校正線的方法如下:采用一組厚度范圍包括被檢鑄件厚度的參考試塊,在熒光屏上或坐標紙上標記出各平底孔的反射波高點,劃一條線,這條線就是距離振幅校正線。

5.4 當對鑄鋼件的探測面同底面平行的區(qū)域進行縱波檢查時,要重新檢查底回波降低75%以上(含75%)的區(qū)域。來確定這是不是由于接觸**、耦合劑不足或缺陷方向不利等引起的。如果反射回波損失的理由不明,就要認為這個區(qū)域是有問題的,并應進一步加以研究。

6.探傷人員要求

6.1 探傷人員必須熟悉如下各項:

    a. 本標準及本標準所涉及的有關標準;

    b. 儀器校正;

    c. 換能器的材料、尺寸、頻率和類型對試驗結果的影響;

    d. 檢驗距離和非線性對試驗結果的影響;

    e. 鑄件表面情況和內(nèi)部組織以及缺陷情況對試驗結果的影響。

6.2 探傷人員必須有相應的無損檢測人員資格證書。

7.驗收標準

7.1 超聲探傷的驗收標準應以鑄件的使用條件、大小、形狀、成分、缺陷的情況以及在實際生產(chǎn)中鑄件通常能達到的質(zhì)量為基礎。驗收標準應在有關技術文件或圖紙中指出。

7.2 應采用表3中的任一等級作為驗收標準。

7.3 驗收質(zhì)量等級應由供需雙方按下列判斷標準之一條或幾條為基礎來制定。

7.3.1 在表3中的質(zhì)量等級規(guī)定的面積內(nèi),底波反射低于距離振幅校正曲線。

7.3.2 在表3中的質(zhì)量等級規(guī)定的面積內(nèi),測得由缺陷引起的底波衰減小于75%(含75%)。