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三豐525系列CS-3200S4表面粗糙度和輪廓測量系統
三豐525系列CS-3200S4表面粗糙度和輪廓測量系統特點:
1. 配有寬范圍且高分辨力的Z軸檢出器。
2. 測量范圍:Z1軸(檢出器):5mm(分辨力:0.0008μm,測量范圍為0.05mm時適用)
X軸:100mm(分辨力:0.5μm)
3. 檢出器的延伸量:*大70mm(可固定在所需的位置)。
4. 適用官方FORMTRACEPAK軟件提供了豐富多樣的分析功能以實現優良的表面紋理評估。
三豐525系列CS-3200S4表面粗糙度和輪廓測量系統技術參數
貨號 |
|
|
CS-3200S4 |
||
測量范圍/ 分辨力 |
X軸 |
100mm/0.05μm |
|||
Z1軸(檢出器) |
5mm/0.08μm 0.5mm/0.008μm 0.05mm/0.0008μm |
||||
Z2軸(立柱) |
1μm |
||||
精度(20℃) |
X軸 |
±(0.8+0.01L)μm(L=測量長度(mm)) |
|||
Z1軸(檢出器) |
±(1.5+(2H)/100)μm(H=水平位置上的測量高度(mm)) |
||||
驅動部 |
直線度(X軸) |
正常使用下 |
0.2μm/100mm |
||
當伸出到*大程度 |
0.4μm/100mm |
||||
測量速度 |
表面粗糙度測量 |
0.02,0.05,0.1,0.2mm/s(4-step) |
|||
輪廓測量 |
0.02,0.05,0.1,0.2,0.5,1.0,2.0mm/s(7級) |
||||
驅動速度 |
X軸(水平方向) |
0 to80mm/s 外加手動 |
|||
Z2軸(垂直方向) |
0 to20mm/s 外加手動 |
||||
上/下移動 |
300mm(電動) |
||||
傾角范圍 |
±45° |
||||
檢出器 |
檢出方式 |
差動感應 |
|||
測力 |
0.75mN |
||||
測針名稱 |
標準測針(用于粗糙度/輪廓測量) |
針尖角度:60°圓錐,針尖半徑:2μm,金剛石針尖 |
|||
圓錐形(用于輪廓測量) |
針尖角度:30°圓錐,針尖半徑:25μm,藍寶石針尖 |
||||
測針上/下運作 |
適用(可在半空停頓) |
||||
注:雖然天然石材測量桌的外觀各有不同,但材料的穩定性是值得信賴的。