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詢價 三豐218系列輪廓測量系統CV-3200,CV-4500
三豐218系列輪廓測量系統CV-3200,CV-4500完善的高精度輪廓測量儀 1.CV-3200/4500系列是在Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂的輪廓測量儀。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡,以實現高精度和高分辨力。于傳統型號相比,新測臂使Z1軸測量范圍增大了10mm同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件,單此接觸就能完成測臂的裝卸,提高了易用性。 2.專為CV-4500系列增加了以下兩大特性: ①裝配雙面測針,實現垂直方向(上/下)連續測量,所獲取的數據實現簡單分析以往難以測量得內螺紋有效直徑。 ②測力可在FORMTRACEPAK軟件中設置。無需調整配重位置。
詢價 三豐218系列輪廓測量系統CV-3200
三豐218系列輪廓測量系統CV-3200高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡,以實現高精度和高分辨力。三豐218系列輪廓測量系統CV-3200于傳統型號相比,新測臂使Z1軸測量范圍增大了10mm同時減少了工件的干擾。
詢價 三豐178系列帶有專用控制/裝置型表面粗糙度測量儀SJ-500,SV-2100
三豐178系列帶有專用控制/裝置型表面粗糙度測量儀SJ-500,SV-2100特點: 帶有專用控制器的高精度,高性能,袖珍型表面粗糙度測量儀,操作簡單,顯示一目了然。 1. 配有7.5英寸彩色TFT液晶屏幕、大號彩**標與觸控式面板控制,該顯示裝置操作簡單,讀取容易。 2. 控制部的內置操縱桿使得定位快捷簡便。測量小孔內側時可使用手動旋鈕對細小觸針的位置進行微調。 3. 表面粗糙度測量條件的設置簡單易行。利用簡單的輸入功能可按ISO/JIS/VDA粗糙度標準計算繪圖指令符號。
詢價 525系列-表面粗糙度和輪廓測量儀SV-C3200/SV-C4500
525系列-表面粗糙度和輪廓測量儀SV-C3200/SV-C4500 525系列-表面粗糙度和輪廓測量儀特點: 表面粗糙度測量功能: 1. 高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供。Z1軸的*高顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)。 2. X軸內置高精度玻璃光柵尺,直接讀取X軸移動距離,在搞精度精準定位下,完成間距參數的評價。 3. 檢出器測力有4mN和0.75mN可選。 輪廓測量功能: 1. Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡,以實現高精度和高分辨力。與傳統型號相比,新測臂使Z1軸測量范圍增大了10mm,同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件,單此接觸就能完成測臂的裝卸,提高了易用性。 2. 專為SV-C-4500系統增加了以下兩大特性作
詢價 三豐218系列輪廓儀CV-2100系列
三豐218系列輪廓儀CV-2100系列實現簡便,準確,快速地測量得輪廓形狀測量儀,三豐218系列輪廓儀CV-2100系列與測量操作相關的配置集中設置在主機前面,大幅減少了操作流程。
詢價 輪廓粗糙度儀
JB-5C輪廓粗糙度儀是二合一的精密測量儀器,廣范應用于機械加工、汽車、軸承、機床、模具光學加工等行業,可測量各種精密機械零件的精糙度和輪廓形狀參數。可擬定合法可評定半徑,角度處量,圓處理,點線處理,兩圓中心距角度,距離等。從而可測量直線度,凸度,溝心距,傾斜度,槽深,槽寬,溝邊距,溝心距垂直距離,水平距離,臺階等形狀參數 。
詢價 218系列輪廓測量系統CV-4500
218系列輪廓測量系統CV-4500是在Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂的輪廓測量儀。218系列輪廓測量系統CV-4500高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡,以實現高精度和高分辨力。
詢價 JB-4C高精度觸針式表面粗糙度測試儀
該儀器可對平面,斜面,外圓柱面,內孔表面,深槽表面,圓弧面和球面等各種零件表面的粗糙度進行測試,并實現表面粗糙度的形狀、輪廓等參數測量,還能測量工件的TP臺階(劃痕)。儀器使用方便,儀器配有電腦及專用測量軟件,運用先進的無噪聲機械定位裝置,可選定被測零件的不同位置,設定各種測量長度進行自動測量,評定段內采樣數據達3000個點。所有的測量數據和曲線可在屏幕顯示或打印輸出,所以在汽車配套行業、機械、模具加工、科研單位、大專院校等各大行業中廣泛使用。
詢價 三豐525系列CS-3200S4表面粗糙度和輪廓測量系統
三豐525系列CS-3200S4表面粗糙度和輪廓測量系統特點: 1. 配有寬范圍且高分辨力的Z軸檢出器。 2. 測量范圍:Z1軸(檢出器):5mm(分辨力:0.0008μm,測量范圍為0.05mm時適用) X軸:100mm(分辨力:0.5μm) 3. 檢出器的延伸量:*大70mm(可固定在所需的位置)。 4. 適用官方FORMTRACEPAK軟件提供了豐富多樣的分析功能以實現優良的表面紋理評估。

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